TEMを用いた高合金鋼中析出物の観察

観察事例

装置、分析法の概要

TEM装置:Phillips、CM200
TEM装置:Phillips, CM200

TEM(透過電子顕微鏡)を用いると、材料中のnmレベルの微細構造の観察が可能です。電子回折による結晶構造解析、付属のEDXSを用いた元素の定性・定量分析や、EELSを用いた化学状態分析が可能です。

データの説明

電解研磨による薄膜
高合金鋼中の析出物と転位のTEM明視野像
TEM試料作製:電解研磨による薄膜

TEM明視野像により、高合金鋼中に析出した1μm程度以下の非金属析出物が観察できます。また、析出物の周囲に転移が観察されました。

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