SIMSを用いた鋼材のボロン粒界偏析のマッピング分析

観察事例

SIMS(二次イオン質量分析法)による粒界に偏析したボロンの観察事例です。

装置、分析法の概要

  • SIMSを用いると、材料中の微量元素の分析が可能です。

データの説明

  • 熱処理によって粒界に偏析した10ppmの鋼中微量ボロンを、イオン像を用いて、観察しました。この方法は、世界に先駆けて観察したものです。
    S.Hashimoto et al., Mat. Sci. Eng., 90, 119 (1987).
鋼中結晶粒界に偏析したボロンの SIMS装置:CAMECA, IMS-3f
鋼中結晶粒界に偏析したボロンの
SIMSによるイオン像
B組成:10 ppm
SIMS装置:CAMECA, IMS-3f

作業の流れ

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部