第18回ファインテック・ジャパンに出展しました

第18回ファインテック・ジャパン

弊社では、広く皆様に商品をご案内申し上げるべく、第18回ファインテック・ジャパンに出展しました。
弊社ブースでは、「ガラス表面の歪み計測」や「RGBフィルターの透過 特性評価」など、FPDの製造現場には欠かせない検査装置の数々をご紹介いたしました。

開催日時 2008年4月16日(水)~4月18日(金)
開催時間 10:00~18:00 (18日(金)のみ17:00終了)
会場 東京ビッグサイト
展示ブース 検査・リペア・測定ゾーン 小間番号:26-28

出展内容

  1. 面歪パタン測定装置SurfTRiDY #1(サンプルサイズ400mm幅以内)
  2. 面歪パタン測定装置SurfTRiDY #2(サンプルサイズ100mm幅以内)
  3. イメージング分光器を用いた2次元フィルター透過率測定装置
  4. イメージング分光器を用いた2次元フィルム膜厚検査装置
  5. DALSA社カメラ
出展風景 出展風景

出展風景

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部