SURTECH 2009展出展しました

SURTECH 2009展

弊社では、広く皆様に技術及びサービスをご案内申し上げるべく、SURTECH 2009へ出展しました。
弊社ブースでは、最新の分析・解析技術・計測技術を中心に特徴ある技術サービスならびにONLY-ONE技術をご紹介いたしました。
 期間中はお忙しい中、ご来場いただきましてありがとうございました。

開催日時2008年9月16日(水)~9月18日(金)
開催時間A.M.10:00~P.M.5:00
会場幕張メッセ 展示ホール7
展示ブースブースNo 22

出展内容

  1. 環境調査技術(環境コンサルタント・環境負荷物質の分析)
  2. 新しい表面観察技術(極低加速電圧SEM)
  3. 赤外線カメラによる応力測定技術

このページに関するお問い合わせはこちらから

  • お問い合わせ
  • ご依頼の流れはこちら

JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部