第27回エレクトロテストジャパンに出展しました

第27回エレクトロテストジャパン

弊社では、広く皆様に解析・評価技術及びサービスをご案内申し上げるべく、第27回エレクトロテストジャパンへ出展しました。
弊社ブースでは、最新の分析・解析技術を中心に特徴ある技術サービスならびにONLY-ONE技術をご紹介いたしました。
 期間中はお忙しい中、ご来場いただきましてありがとうございました。

開催日時2010年1月20日(水)~1月22日(金)
開催時間 10:00~18:00
会場東京ビッグサイト 東4ホール
展示ブース 東49-21 (『ものづくりのベストパートナー』のサインが目印です)
会場内配置図

出展内容

  1. 水に浮く鉄ボール!(中空鉄球‐TECBALL‐)(現在、TEC-BALLのお取り扱いはございません。)
  2. ナノ材料開発における分析・解析技術
  3. 電池関連材料の評価・解析技術
  4. 電子部品/製品の故障解析技術
  5. 膜厚分布測定装置(フィディカ‐FiDiCa‐)
  6. 高精度赤外線カメラによる欠陥検査技術
  7. 材料解析技術と利用技術コンサルティング
  8. 表面処理材の総合評価技術
  9. 材料開発における極微量分析技術

公式ホームページ

このページに関するお問い合わせはこちらから

  • お問い合わせ
  • ご依頼の流れはこちら

JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部