分析展2011に出展いたしました

分析展2011

多数のご来場ありがとうございました。

【テラヘルツ波を用いた可搬型非破壊検査装置】
最新のテラヘルツ波測定技術による可搬型の非破壊検査装置です。

特徴

  • 見えないものを可視化
    光の直進性と電波の透過性を兼ね備えたテラヘルツ波によって、他の光では見えないものを可視化することができます。
  • 対象物の内部を非破壊・非接触で検査
    パルス状のテラヘルツ波を対象物に照射して、対象物内部の状態を非破壊・非接触で検査することができます。
  • 可搬型・堅牢性を実現
    光通信技術を利用し、可搬型・堅牢性を実現して、現場に持ち込んでの非破壊検査を可能にしました。
テラヘルツ波を用いた可搬型非破壊検査装置
会期 2011年9月7日(水)~9日(金)
10:00~17:00
会場 幕張メッセ国際展示場
弊社小間番号 7A-901 『ものづくりのベストパートナー』のサインが目印です

出展内容

  1. 新商品(テラヘルツ波を用いた可搬型非破壊診断システム)
  2. 赤外線カメラによる応力分布測定技術
  3. インプラント材料解析技術
  4. ナノ材料の分析・解析技術
  5. 電池・材料解析評価技術(電池試作から性能評価まで対応)

   他 弊社技術を各種ご紹介

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部