2012くまもと産業ビジネスフェアに出展いたしました

2012くまもと産業ビジネスフェア

多数のご来場ありがとうございました。

会期 2012年2月16日(木)、17(金)
10:00~17:00
会場 グランメッセ熊本
弊社小間番号 B-1

出展内容

  1. ナノ材料の分析・解析技術
  2. 非破壊検査技術(温度・応力観察、その他)
    ※プリント基板や半導体などの微小領域の温度や応力解析可能 (μm~大型構造物まで対応)
  3. インプラント材料評価技術
  4. 各種耐食性・耐久性試験
  5. 樹脂・複合材料、電子部品等含む不具・故障解析技術および材料評価技術
  6. 電池材料解析評価技術

   他 弊社技術を各種ご紹介

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部