第13回国際ナノテクノロジー総合展・技術会議(nano tech2014)に出展いたします

第13回国際ナノテクノロジー総合展・技術会議(nano tech2014)

弊社の技術サービス事業についてご紹介申し上げるべく、「nano tech2014」へ出展いたします。

今回は、エネルギー関連材料、磁性材料、複合材料、有機材料などの構造解析技術および、検査・計測技術についてご紹介いたします。

また、1月30日(木)15:00~15:45には、セミナーにて、『ナノ材料の微細構造解析技術の最前線』と題しまして、以下のとおり、詳しくご紹介させていただきます。

ご多忙の折、大変恐縮ではございますが、是非とも弊社ブースおよびセミナーへお立ち寄りくださいますようお願い申し上げます。

展示内容

  1. 材料の構造解析技術
    ・エネルギー関連材料:電池パワーデバイス触媒など
    ・その他材料:磁性材料複合材料有機系材料
  2. 環境測定・分析技術 (ナノマテリアル、PM2.5などの測定・分析技術)
  3. 計測・可視化解析 (目的に応じて様々な波長の光を用いた計測・可視化技術
会期 2014年1月29日(水)~ 31日(金)
10:00~17:00
会場 東京ビッグサイト
弊社小間番号 5B-26『ものづくりのベストパートナー』のサインが目印です
公式ホームページ http://www.nanotechexpo.jp/main/

セミナー(講演)

講演日時 :2014年1月30日(木) 15:00 ~ 15:45
タイトル :ナノ材料の微細構造解析技術の最前線
 
電池・電子部品などのナノ材料に関する表面・界面解析例を中心に、当社の解析技術を紹介いたします。
特に、昨年度導入いたしました0.1nm以下の原子レベルでの観察・分析が可能な収差補正型超高分解能STEMを駆使することで、パワー半導体のゲート酸化膜・SiCウエハ界面、Li二次電池材料の構造、希土類磁石の結晶粒界など、従来TEMレベルを超えた原子スケールでの解析例や、100Vまで加速電圧を低下させることが可能なULV-SEM(極低加速電圧SEM)を用い、酸化物やCNTなどの超微粒子、薄膜材料の表面・界面構造を観察、解析した例をご紹介いたします。

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部
フリーダイヤル:0120-643-777