JFEテクノリサーチのオンライン技術講座

ZEISS Academy Online 「The Impact of Advanced SEM on Materials Characterisation」 (低速走査電子顕微鏡の先進的な使い方)

今日のSEM(走査電子顕微鏡)は、複数の検出器(複数の二次電子検出器、複数の反射電子検出器)を搭載することで、従来のSEMで観察していた表面の凸凹の観察画像を超え、様々な情報(物質種、結晶情報など)を反映した観察を可能にしています。

SEMの最大活用には、材料に合わせた適切な観察条件(“sweet spot”)を選択することが必須です。このセミナーでは、SEMから豊かな情報を得るため、像形成の原理を説明しその理解に基づき実際に観察した応用例を紹介しています。


※本セミナーは、2020年に当社の佐藤馨フェローが3回にわたり講師を務めました“ZEISS Academy ONLINE”を日本語で再構成したWEB動画(Webinar)です。

関連リンク

ZEISS社WEBINAR 「The Impact of Advanced SEM on Materials Characterisation」

 

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