第1回 Cs-STEMセミナー(無料)

当セミナーは終了いたしました。多数の御来場を賜り、ありがとうございました。

今年8月より、最新のCs-STEM(日本電子社製ARM-200F)を立ち上げます。
この装置では原子レベルの観察・分析が可能となりますので、ナノレベルでの材料設計や研究開発を推進するための強力な設備として期待できます。
装置の立ち上がりを機に、最新のCs-STEMに関するセミナーを開催いたします。
ご多忙の折、大変恐縮ではございますが、是非とも本セミナーへご参加くださいますようお願い申し上げます。

Cs-STEMセミナーのご案内

講演メニュー
12:30~ 受付
13:00~14:00 基調講演:収差補正TEM/STEMによるナノ材料の研究(60分) 田中信夫教授(名古屋大学)
14:00~14:35 事例紹介1:原子分解能分析電子顕微鏡JEM-ARM200F(35分) 奥西 栄治 様(日本電子)
14:35~15:10 事例紹介2:Cs補正STEM観察事例(35分) 担当者(JFEテクノリサーチ)
15:10~15:30 質疑応答
15:40~17:15 装置見学、弊社紹介
開催日時:
2012年9月3日(月) 13:00~17:00
場 所:
JFEスチール 京浜ビル8階 大会議室(川崎市川崎区南渡田町1-1)
参加費:
無料

アクセス

JR ご利用の場合
鶴見線、南武線浜川崎支線『浜川崎駅』下車
…徒歩3分
京浜東北線、東海道本線、南武線『川崎駅』下車
…タクシーで約15分
(行き先は「京浜ビル」と言って頂くと分かります。)
JR川崎駅からバスご利用の場合
JR「川崎駅」東口よりバス15分
地下17番出口、乗り場5、臨港バス川24系統
「鋼管循環」行
または乗り場6、市営バス川40系統
「JFE」「塩浜営業所」「臨港警察署」行
※いずれも「JFE前」下車、徒歩3分
JFEスチール京浜ビル8階

設備の特徴

1 冷陰極電子銃と球面収差補正機能による超高分解能走査・透過電子顕微鏡

  • 複数検出器による超高分解能観察:HAADF, ABF, HRTEMの分解能<0.1nm
  • 冷陰極電子銃による高エネルギー分解能EELS分析:ΔE<0.4eV) Gatan製マルチリージョンEELS
  • 広い加速電圧レンジ: 60~200kV
  • 高感度EDX分析:JEOL製SDD検出器(検出有効面積100mm2
    ThermoFisherScientific製データ処理システム

2 豊富なアプリケーション支援ツール

  • クライオ機能付デュアルビームFIB
  • トモグラフィーホルダー、ローレンツホルダー、大気非暴露ホルダー、低温ホルダー

問合わせ先

JFEテクノリサーチ株式会社 東京営業所 川崎支所 (事務局:橋本、遠山、小松)
〒210-0855 川崎市川崎区南渡田町1-1
TEL 044-322-6604 FAX 044-322-6528
E-mail  nano-c@jfe-tec.co.jp