主要設備一覧(分析装置)

化学分析

  • 誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS)
    • 四重極型ICP-MS(ICP-QMS)
    • トリプル四重極型ICP-MS(ICP-QQQ)
    • 二重収束型(高分解能型)ICP-MS(HR-ICP-MS)
  • クリーンルーム
  • オンサイト分析装置
    • GreenFact®、GreenFact®II
    • ポータブル蛍光X線分析装置
  • レーザアブレーションICP質量分析装置(LA-ICP-MS)
  • ICP発光分析装置(ICP-AES)
  • 迅速分析装置(スパーク発光分析装置:スパーク-OES)
四重極型ICP-MS
四重極型ICP-MS
トリプル四重極型ICP-MS
トリプル四重極型ICP-MS
二重収束型(高分解能型)ICP-MS
二重収束型ICP-MS
ICP発光分析装置
ICP発光分析装置
GreenFact®II
GreenFact®II
ポータブル蛍光X線分析装置
ポータブル蛍光X線分析装置
レーザアブレーション装置
レーザアブレーション装置
スパーク発光分析装置
スパーク発光分析装置

主要な分析装置となります。上記以外の装置も多数保有しております。

医薬品評価

  • 高感度核磁気共鳴装置(クライオプローブ搭載600MHzNMR)
  • 2次元LC/精密質量分析装置(Q-Exactive)
  • 2次元LC/オンライン不純物単離濃縮装置
  • 誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS)
  • クリーンルーム
高感度核磁気共鳴装置
高感度核磁気共鳴装置
2次元LC/精密質量分析装置
2次元LC/精密質量分析装置
2次元LC/オンライン不純物単離濃縮装置
2次元LC/オンライン
不純物単離濃縮装置
誘導結合プラズマ質量分析装置
誘導結合プラズマ質量分析装置

主要な分析装置となります。上記以外の装置も多数保有しております。

物理解析

  • 高感度EDX搭載FE-TEM:局所高感度元素分析
  • 収差補正型走査透過電子顕微鏡(Cs補正STEM):原子分解能
  • 極低加速電圧走査電子顕微鏡(ULV-SEM):極表面観察
  • 電界放出型電子線マイクロアナライザ(FE-EPMA):高空間分解能分析
  • 微小部X線光電子分光装置(XPS):表面状態分析
  • オージェ電子分光装置(AES):局所表面・破面分析
  • X線回折装置(XRD):微小部、薄膜、応力、高温in-situ等
  • X線回折/残留γ測定装置
  • 大気非暴露解析装置:FIB、SEM、XPS等
高感度EDX搭載FE-TEM
高感度EDX搭載FE-TEM
極低加速電圧走査電子顕微鏡
極低加速電圧走査電子顕微鏡
X線回折装置
X線回折装置

主要な分析装置となります。上記以外の装置も多数保有しております。

環境分析

  • 高分解能型ガスクロマトグラフ質量分析計(高分解能GC-MS)
  • 液体クロマトグラフタンデム質量分析計(LC-MSMS)
  • ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS)
    • ガスクロマトグラフ熱伝導度検出器(GC-TCD)
    • ガスクロマトグラフ水素炎イオン化検出器(GC-FID)
    • ガスクロマトグラフ炎光光度検出器(GC-FPD)
    • ガスクロマトグラフ電子捕獲型検出器(GC-ECD)
  • 全有機体炭素分析装置(TOC)
高分解能型ガスクロマトグラフ質量分析計
高分解能型ガスクロマトグラフ質量分析計
液体クロマトグラフタンデム質量分析計
液体クロマトグラフタンデム質量分析計

主要な分析装置となります。上記以外の装置も多数保有しております。

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