主要設備一覧(検査・計測装置)

受託計測解析

  • 高性能赤外線カメラ(温度、応力測定 非破壊検査)
  • 実験モード解析装置
  • 透視歪み測定装置(PresTRiDY)
  • 画像相関法を用いた非接触変位・ひずみ解析装置
  • 面歪み測定装置(SurfTRiDY )
  • フェイズドアレイ超音波探傷装置
  • ストレスクイッカー

主要な計測装置となります。上記以外の装置も多数保有しております。

赤外線カメラの基本性能

  FLIR社製X6580SC FLIR社製SC655 FLIR社製Silver480M
温度測定範囲 -20~+3,000℃ -20~+2,000℃ -20~+3,000℃
温度測定精度 0.02℃ 0.05℃ 0.025℃
撮影速度 355コマ/秒
(Max20,000コマ/秒)
50コマ/秒
(Max200コマ/秒)
380コマ/秒
(Max25,000コマ/秒)
フル画素数 640×512画素 640×480画素 320×240画素
FLIR社製X6580SC
FLIR社製X6580SC
FLIR社製SC655
FLIR社製SC655
FLIR社製Silver480M
FLIR社製Silver480M

3次元デジタル画像相関法システム概要

システム構成 カメラ 通常撮像: 1,200万画素カメラ×2台(60フレーム/秒)
高速撮像: 500万画素高速度カメラ×2台
(500万画素/2,000フレーム/秒、 フルハイビジョン/4,500フレーム/秒)
ソフトウェア 独GOM社製
GOM Correlate Professional® (通称ARAMIS®
計測スペック 座標計測精度 X,Y座標:1/50画素、Z座標:1/20 画素
ひずみ計測範囲 0.01%~2000%

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部