検査・計測
主要設備一覧（検査・計測装置）
受託計測解析
- 高性能赤外線カメラ（温度、応力測定 非破壊検査）
- 実験モード解析装置
- 透視歪み測定装置（PresTRiDY)
- 画像相関法を用いた非接触変位・ひずみ解析装置
- 面歪み測定装置（SurfTRiDY )
- フェイズドアレイ超音波探傷装置
主要な計測装置となります。上記以外の装置も多数保有しております。
赤外線カメラの基本性能
| FLIR社製X6580SC | FLIR社製SC655 | FLIR社製Silver480M | |
|---|---|---|---|
| 温度測定範囲 | -20～＋3,000℃ | -20～＋2,000℃ | -20～＋3,000℃ |
| 温度測定精度 | 0.02℃ | 0.05℃ | 0.025℃ |
| 撮影速度 | 355コマ/秒 （Max20,000コマ/秒） |
50コマ/秒 （Max200コマ/秒） |
380コマ/秒 （Max25,000コマ/秒） |
| フル画素数 | 640×512画素 | 640×480画素 | 320×240画素 |
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FLIR社製X6580SC -
FLIR社製SC655 -
FLIR社製Silver480M
3次元デジタル画像相関法システム概要
| システム構成 | カメラ | 通常撮像： 1,200万画素カメラ×2台（60フレーム/秒） |
|---|---|---|
| システム構成 | カメラ | 高速撮像： 500万画素高速度カメラ×2台 （500万画素/2,000フレーム/秒、 フルハイビジョン/4,500フレーム/秒) |
| システム構成 | ソフトウェア | 独GOM社製 GOM Correlate Professional® （通称ARAMIS® ） |
| 計測スペック | 座標計測精度 | X,Y座標：1/50画素、Z座標：1/20 画素 |
| 計測スペック | ひずみ計測範囲 | 0.01％～2000％ |
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- JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部
- 0120-643-777
