「近赤外3波長カメラによる異物検査装置」で、JFEスチール新商品開発賞銀賞を受賞

近赤外3波長カメラによる異物検査装置」は、2019年12月2日にJFEスチール(株)本社で開催されたJFEスチール社長賞および新商品開発賞表彰式において、新商品開発賞銀賞を受賞しました。

食品などの製品に混入する異物を検査することは品質保証上きわめて重要であるが、従来のX線検査装置・金属探知機・色彩検査装置では製品と同色の樹脂異物などが検査できない問題があった。そこで、近赤外領域の特定の3波長を同時に検知するカメラを世界で初めて開発・商品化し、このカメラと近赤外照明および独自のアルゴリズムを搭載したソフトウェアで構成される異物検査装置を開発しました。

本カメラは近赤外光の吸収度合の差に基づく検出のため、人間の目では識別困難で食品のクレームの対象となる同色樹脂異物などを検出できる。その結果、本異物検査装置は、食品業界を中心に脚光を浴び、「食の安全」に貢献できる新商品として評価されたものです。

授賞式

JFEスチール北野社長(左)より表彰を受ける当社計測機器開発センター 奥野センター長(右)

 

(ご参考) JFEスチールの表彰制度概要
技術分野及び業務改革等において会社経営に貢献した顕著な成果に対し表彰を行なうもので、(1)案件の内容に応じて「技術表彰」、「功績表彰」、「グループ表彰」に分類表彰され、主にそれらの中から特に優れたものを表彰する『JFEスチール社長賞』と、(2)オンリーワン・ナンバーワン商品の拡大に向けた『新商品開発賞』の、2つの賞から構成されます。

関連リンク・関連記事

このページに関するお問い合わせはこちらから

  • お問い合わせ
  • ご依頼の流れはこちら

JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部