ナノ材料評価、物理解析 事例集(技術分野)
- お客様の開発にリンクした分析評価方法のご提案
- 超低湿度での電池試作を実現(ドライルーム導入)
- リチウムイオン二次電池における充電状態Si系負極の微細構造解析
- 炭素繊維強化プラスチック(CFRP)の構造解析
- ろう付部材の試作と特性評価
- 繊維強化複合材料の破損解析
- 有機材料のフラクトグラフィ
- 収差補正STEMによるLIB正極・負極のLi挙動調査
- パワーデバイス実装部品の複合材料断面の観察技術
- 繊維強化プラスチックの特性評価メニュー一覧
- プラズマ溶接部品の試作および評価
- リチウムイオン二次電池における充電状態電極の結晶方位解析
- リチウムイオン二次電池用外装材の電解液浸漬試験
- リチウムイオン二次電池の正極における物質分率評価技術
- リチウムイオンキャパシタ(LIC)試作評価
- クライオ断面イオンミリング加工によるセパレータの断面観察
- リチウムイオン二次電池の塗工した電極の分散性評価(バインダーの染色観察)
- リチウムイオン二次電池負極におけるSEI皮膜構造解析
- 太陽電池モジュールの評価・解析技術
- リチウムイオン二次電池正極におけるマクロからミクロまでの構造解析
- 高性能磁性材料の分析事例 高分解能EBSD&FE-EPMA分析
- 高性能磁性材料の分析事例(2)収差補正STEMによる粒界の高分解能分析
- 電子顕微鏡試料の受託加工
- FE-EPMAによる薄膜の組成・膜厚分布の同時評価
- ULV-SEMによるナノ微粒子の相別粒子解析
- 凍結ミクロトーム切断した樹脂断面のULV-SEM観察
- SEM-EDXニよる超高速・広範囲粒子解析
- ワイドギャップ半導体のULV-SEM観察
- 極低加速電圧SEMを活用した医薬分野の可視化事例
- ULV-SEMの特性を生かした新規表面観察技術
- 加工ダメージを軽減するクライオ機能搭載FIB
- 大気非暴露環境におけるX線回折結晶構造解析
- パワーデバイス用チップの微細構造観察技術
- FIB-SEMによる3Dナノ立体構造解析
- 高性能磁性材料の分析事例(2)ローレンツ電子顕微鏡法による磁区構造観察
- 耐火物診断技術
- パワーデバイス用SiC/SiO2界面のナノスケール解析技術
- FE-EPMAによる電極材料の分析事例
- 非鉄金属の極微細析出物観察
- 透過EBSD法による微細結晶方位解析
- 広域EBSDによる結晶方位測定
- イオン液体を利用したSEM観察技術
- ナノサイズ触媒粒子の観察・分析
- EBSD法によるシリコン(Si)ウエハ加工ダメージ評価
- クライオ機能付FIB高精度加工技術を用いた高分解能EBSD&FE-EPMA分析事例
- ULV-SEMおよびFIB-SEMを活用した生体試料の観察
- ブレンドポリマーの極低加速電圧SEMによる微細組織(モルホロジー)観察
- Cs補正STEMによるEDX原子分解能マッピング次世代メモリーの分析事例
- 多孔質材料の3D形状解析・CAEモデリング
- マグネシウム合金製インプラントの各種評価試験
このページに関する
お問い合わせはこちらから
- JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部
- 0120-643-777