第１回 [九州]半導体産業展に出展いたしました。2024年9月25日（水）～9月26日（木）：10:00～17:00：マリンメッセ福岡B館

第１回 [九州]半導体産業展

当社の半導体向けソリューションをご紹介するべく、［九州］半導体産業展に出展いたします。

今回は、半導体やフィルム、液膜などの膜厚分布を高速・高精度にマッピングできる膜厚分布測定装置 FiDiCa®（フィディカ）、赤外線カメラによる気流の可視化等をご紹介いたします。

当展示会は終了いたしました。ご来場いただきありがとうございました。

展示内容

1. 膜厚分布測定装置「FiDiCa®」
   当社が独自開発した400万点を90秒で測定可能な、高速・高精度な光干渉膜厚計をご紹介します。
2. 赤外線カメラによる気流の可視化【実機展示】
   赤外線カメラを用いて、気流とその温度分布を可視化する技術をご紹介します。
3. JFEテクノリサーチの半導体向けソリューション
   当社の半導体関連に関する、分析、解析、検査技術についてご紹介します。

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  シリコンウェーハの膜厚分布図（FiDiCa®）

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  気流可視化流線解析結果

会期	2024年9月25日（水）～9月26日（木）：10:00～17:00
会場	マリンメッセ福岡B館
弊社小間番号	3-11
公式ホームページ	https://k-semi.jp/

ご来場のご案内

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