No.21「ナノ材料の解析・評価の新展開」

No.21
ナノ材料の解析・評価の新展開

近年、さまざまな産業分野で、ナノサイズの微粒子や薄膜等のナノ材料が利用され、バルクとは異なるナノサイズならではの特性・構造が新たな可能性を開きつつあります。そして、これ らの特性・構造の解析は、今後ますます重要になってくると予想されます。当社は、この8月よりナノ材料評価センターを開設しました。確かな技術と豊かな経験でナノ材料を解析し、ナノ材料の開発・生産を強力にサポートします。

超微粒子の解析

写真1に、1μmの釉薬微粒子の表面に分散した数10nmの超微粒子の構造・組成を、極低加速電圧走査電子顕微鏡(ULV-SEM:Ultra Low accelerating Voltage Scanning Electron Microscope)で解析した実例を紹介します。形態観察のみならず、国内トップレベルのエネルギー分散型X線分光(EDX:Energy Dispersive X-Ray Spectrometry)分析技術で、数10nmの超微粒子の組成解析も可能となりました。また、写真2には、1~数nmのC担体上のPt触媒微粒子を透過電子顕微鏡(TEM:Transmission Electron Microscope)技術を駆使して解析した実例を示しています。

カーボンナノチューブの構造評価

近年注目されている新素材カーボンナノチューブやフラーレンなどの微細な炭素材料も、形状と分布の観察、分析を行うことができます。当社では、SEM観察やTEM観察による微細な構造観察はもちろんのこと、ラマン分光等の手法により、状態分析も可能です。カーボンナノチューブの一本単位での観察・評価ができることが、当社の大きな特徴のひとつです。

各種の分析・評価に対応

この他にも当社では、化学分析による組成解析、粒度分布や熱物性をはじめとする物性評価、作業環境測定など、ナノ材料に関するさまざまな分析、評価に対応できます。ナノ材料の分析をお考えの際には、ぜひ、当センターへお問い合わせ下さい。

写真1 複合酸化物釉薬粒子のULV-SEM観察及びEDX分析
写真1 複合酸化物釉薬粒子のULV-SEM観察及びEDX分析
写真2 カーボン担体上のPt触媒微粒子のTEM観察
写真2 カーボン担体上のPt触媒微粒子のTEM観察

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部