KTEC Newsバックナンバー

“KTEC News”は、旧・川鉄テクノリサーチ(株)が年４回発行していた小冊子です。鉄鋼その他先端技術・材料に関する話題をいろいろな角度からとらえ、専門家以外の方にも気楽に面白く読んでいただけます。

現在お取り扱いしていない製品・サービスの場合もございますので、ご了承ください。

バックナンバー

• NO.62 2003年07月 No.62 航空イメージング分光測定装置による地上のハイパースペクトル測定
• NO.61 2003年04月 No.61 最新鋭走査電子顕微鏡（ショットキー）による高感度観察
• NO.60 2003年01月 No.60 シリコンウェーハ切断用ソーワイヤの組織
• NO.59 2002年10月 No.59 電子部品の不良解析例-リフロー後のポップコーン現象-
• NO.58 2002年07月 No.58 錬鉄レール：日本最初の鉄道
• NO.57 2002年04月 No.57 「繰り返し集束伸線」による自己相似型構造を有するナノ組織線材
• NO.56 2002年01月 No.56 鉄芯入りの古代オリエントの青銅剣
• NO.55 2001年10月 No.55 微小領域分析EPMAによる介在物/析出物の元素マッピング
• NO.54 2001年07月 No.54 均一で緻密な組織に制御された大型MnZnフェライトコア
• NO.53 2001年04月 No.53 磁場を利用した鉄鋼材料の組織制御
• NO.52 2001年01月 No.52 TEMで観察した六方晶BN粉末
• NO.51 2000年10月 No.51 動的再結晶を活用した超微細組織薄鋼鈑（DREAM鋼鈑）
• NO.49 2000年04月 No.49 基盤配線の非破壊観察
• NO.50 2000年04月 No.50 鋼構造物の疲労損傷モニタリング
• NO.47 1999年10月 No.47 FE-AESを用いた鋼中TiC系析出物断面の元素マッピング
• NO.46 1999年07月 No.46 はんだ接合界面の金属間化合物層観察
• NO.45 1999年04月 No.45 X線分析顕微鏡によるBGA（Ball Grid Array）短絡部の非破壊分析
• NO.44 1999年01月 No.44 EBSDを用いたLSI・Al配線の方位解析
• NO.43 1998年10月 No.43 透過電顕による樹脂材料の微細組織（モルホロジー）観察
• NO.42 1998年07月 No.42 KPシートの内部構造のSEM観察
• NO.41 1998年04月 No.41 熱間圧延まま鋼板の厚さ方向の結晶方位分野のEBSD測定
• NO.40 1998年01月 No.40 ティンフリー鋼板表面のAFM（原子間力顕微鏡）観察
• NO.39 1997年10月 No.39 金属超微粉のFIB加工断面透過電顕観察
• NO.38 1997年07月 No.38 LSIアルミ配線薄膜のTEM観察
• NO.37 1997年04月 No.37 ステンレス鋼板上のTiおよびTiNコーティング膜に発生させた亀裂の観察
• NO.36 1997年01月 No.36 グラファイト熱延鋼板の析出黒鉛中BN核のオージェ電子カラーマッピング像
• NO.35 1996年10月 No.35 27年経過した耐候性鋼の安定さび層断面のEPMAによる元素分布調査
• NO.34 1996年07月 No.34 窒化チタン膜と珪素鋼単結晶界面の透過電子顕微鏡像
• NO.33 1996年04月 No.33 人口の造形美－溶接時に発生するスパッタ－
• NO.32 1996年01月 No.32 インレンズ型FE-SEMで見たLSIの内部配線
• NO.31 1995年10月 No.31 400kV分析電子顕微鏡によるシリコンウェーハ中析出物の極微電子回析
• NO.30 1995年07月 No.30 200kV電子顕微鏡による磁区細分化珪素鋼板の観察
• NO.29 1995年04月 No.29 三次元走査型電子顕微鏡を用いたステンレス鋼鈑表面の斜め鳥瞰図
• NO.28 1995年01月 No.28 FIB装置を用いて加工したロール表層部の断面透過電子顕微鏡像
• NO.27 1994年10月 No.27 古代鉄滓の組織と元素分布－走査電子顕微鏡による観察
• NO.25 1994年04月 No.25 走査電子顕微鏡で見たプラスチックの破断面
• NO.24 1994年01月 No.24 ジュラルミンの組織と元素分布の観察－EPMAで見たその素顔
• NO.23 1993年10月 No.23 自然の造形の巧みさ－天然繊維のミクロの姿
• NO.22 1993年07月 No.22 たくまざる造形の美－銅合金の金属組織
• NO.21 1993年04月 No.21 ナノメーターの世界をのぞく －Ni超微粉の接触面
• NO.19 1992年10月 No.19 半導体デバイス内の微弱発光検出による故障解析
• NO.20 1992年10月 No.20 光学顕微鏡および走査電子顕微鏡による炭素鋼の鋳造組織と圧延組織の観察
• NO.18 1992年07月 No.18 金属顕微鏡による鋳鉄金属組織の観察
• NO.17 1992年04月 No.17 透過電子顕微鏡を用いたシリコンウェーハ中の結晶欠陥の観察
• NO.16 1992年01月 No.16 走査型電子顕微鏡で見た方向性珪素鋼鈑の磁区
• NO.14 1991年07月 No.14 LSIの内部を見る－FIB装置による断面の走査イオン顕微鏡写真
• NO.13 1991年04月 No.13 原子の世界を探る　－400kV電子顕微鏡によるシリコン結晶の格子像
• NO.12 1991年01月 No.12 走査型電子顕微鏡で見た金属のへき開破面と粒界破面
• NO.11 1990年10月 No.11 電子機器の心臓部―直流安定化電源
• NO.10 1990年07月 No.10 走査型電子顕微鏡で見た金属の疲労破面と延性破面
• NO.09 1990年04月 No.9 耐食性・耐候性に優れたハイテク塗料の塗膜断面の組織
• NO.08 1990年01月 No.8 大自然の妙－極地の夜を彩るオーロラ
• NO.07 1989年10月 No.7 さびずに切れ味の優れたハイテク包丁の断面組織
• NO.05 1989年04月 No.5 走査電子顕微鏡による試料中の元素の分析
• NO.04 1989年01月 No.4 X線マイクロアナライザーによるカラー化された金属の微細（ミクロ）組織
• NO.03 1988年10月 No.3 新しい建築空間をイメージするニューセラミックタイル
• NO.02 1988年07月 No.2 ミクロの目で見た石綿の繊維
• NO.01 1988年04月 No.1 製鉄遺跡から出土した鉄滓の結晶組織