太陽電池の調査分析

太陽電池の調査分析

モジュール劣化部断面観察例 モジュール劣化部断面観察例

太陽電池を構成する部材(シリコン系半導体、電極など)の微細構造解析が必要な場合、試料調製から必要な物理解析や化学分析に対応しております。

  • 試料調整(精密断面加工)
  • SEM観察(結晶構造解析など)
  • 電界放出型電子線 マイクロアナライザ (FE-EPMA)による観察
  • 収差補正型透過走査 電子顕微鏡(Cs補正STEM)による観察
  • フーリエ変換赤外分光高度計(FT-IR)による分析

調査分析の詳細

調査・分析項目 対応サンプルサイズ 条件詳細 注意事項
特記事項
外観写真      
試料調整
(精密断面作製)
クライオFIB 最大30mmΦ×高さ15mm
(仕上げ加工のみクライオ使用の場合)
加速電圧:0.5~30kV。
最低凍結温度-192℃
(液体窒素冷却ガス循環)
加工条件
要ご相談
クライオ
断面イオンミリング加工
最大10mm幅×10mm長さ×4mm厚さ 試料表面が平滑である必要有り。
(加工性、熱伝導性のため)。
加工条件
要ご相談
SEM観察 SEM観察-EDX分析 最大300mmΦ×110mm(H),5kg
(観察領域は200mmφ)
大型試料、低真空モード、低加速観察,
分析、高分解能観察 対応可能。
観察条件等
要ご相談
3D-SEM 最大30mmΦ×高さ15mm
(加工、観察領域は数μm□)
FE-SEM加速電圧:0.1~30kV。
SEM像分解能1.9nm@1kV。
加工間隔、領域
要ご相談
EBSD測定 25mmΦ程度。その他も対応可能、要御相談 最大測定領域5mm×10mm。 解析項目等
要ご相談
EPMA 最大90mm□程度。 FE-EPMAによる高分解能観察可能。  
TEM/SEM 3mmΦ薄膜試料 EDX分析、EELS分析可能。
Cs補正STEMによる高分解能観察可能。
 
FT-IR分析 最大50mm□ ATRイメージング、近赤外IR可能。  

分析事例

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部