超音波を用いた計測

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高速電子スキャン方式高周波超音波画像化装置による非破壊検査、
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概要

高速電子スキャン方式高周波超音波画像化装置は、超音波を用いて金属、樹脂、セラミックなどの内部欠陥(ボイド、ク ラック、介在物、接着面の剥離など)の検出や、表面または内部構造の画像化を行う装置です。一般的な超音波画像化装 置よりも高周波の超音波プローブと高精度水浸スキャナを用いることで数十μmレベルの内部欠陥を検出し、平面図や断 面図などの情報を得ることができます。アレイ型プローブを採用することにより、超音波ビームの角度や集束点を任意に変 更することができ、測定対象に最適な設定を行うことができます。大量検査から研究・開発まで、お客様の幅広いニーズに お応えいたします。

  • メーカー: 日立エンジニアリング
    走査範囲: 300×200mm
    測定分解能: 20μm
    (最小走査ピッチ)
    プローブ: 50MHz(リニアアレイ方式)
    アレイ制御: 最大384ch(同時励起数最大32ch)
    深度分解能: 12μm(鋼の場合)
    観察方法: 試験片を装置水槽内に水没させて観察します。

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