JFEテクノリサーチの
オンライン技術講座

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この度、"オンライン技術講座"を"オンデマンドセミナー"として、リニューアルしましたので、お知らせいたします。今回のリニューアルでは、皆様にとってより見やすく、動画が探しやすい構成やデザインに改善いたしました。

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今日のSEM（走査電子顕微鏡）は、複数の検出器（複数の二次電子検出器、複数の反射電子検出器）を搭載することで、従来のSEMで観察していた表面の凸凹の観察画像を超え、様々な情報（物質種、結晶情報など）を反映した観察を可能にしています。

SEMの最大活用には、材料に合わせた適切な観察条件（"sweet spot"）を選択することが必須です。このセミナーでは、SEMから豊かな情報を得るため、像形成の原理を説明しその理解に基づき実際に観察した応用例を紹介しています。

※本セミナーは、2020年に弊社の佐藤馨フェローが3回にわたり講師を務めました"ZEISS Academy ONLINE"のWEB動画（Webinar）です。

ZEISS Academy Online Contents

No.1 最新の走査電子顕微鏡
～"Sweet spot"を理解して像情報を最大活用～（約38分） No.2 反射電子像がもつポテンシャル
～取込み角度制御で情報を取分け～（約36分） No.3 Sweet spot下での像観察と元素分析の両立
～現状のSEMの課題についても一言～（約30分）

講師：JFEテクノリサーチ　フェロー　佐藤 馨

1989年 英ケンブリッジ大学大学院博士課程修了、Ph.D。
JFEスチール（株）の分析・物性研究部長、主席研究員を経て、2016年から当社フェロー。
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