JFE-TEC News
No.76「物理解析の最前線」
JFE-TEC News No.76号 物理解析の最前線特集号 記事一覧
No.76 物理解析の最前線特集号
物理解析の最前線非対面型コミュニケーションも強化
Advanced Microbeam Analyses at JFE-TEC -Enhanced Online Communication-
観ること測ることができないものは制御できない
最先端の物理解析技術の観る力は、材料研究、新製品開発や製品の品質安定にとって不可欠な道具となっています。微細構造解析技術は暗闇に光を灯します。分析・解析を適切に設計し、活用するにあたっては、解析対象である材料を理解し、お客様の目的を的確に知る力が求められます。
新型コロナの危機を乗り越える
新型コロナウィルスの蔓延により、お客様とのコミュニケーションが危機にさらされました。このような中で、当社はOnline会議、実験立会いシステムを整備致しました。高画質の電子顕微鏡データなどをリアルタイムで共有できるようになり1)、遠方からお越しいただかなくても実験に参加していただける選択肢ができました(図1)。
ウェビナーコンテンツで最新情報を発信
お客様との面会が難しくなったため、最新の技術情報を提供するウェビナーコンテンツを整備いたしました。2021年9月、2022年6月に開催した極低加速走査電子顕微鏡(ULV-SEM)ウェビナーには、併せて600名を超える方々にご登録頂きました。その技術紹介動画は、当社ホームページから、オンデマンドで視聴いただけます2)。
世界の動向を睨んで新技術を強化
当社は最新鋭のULV-SEMを強化するとともに新しいイメージングにも挑戦しています(図2)。さらに、全固体電池開発を支える大気非暴露解析、放射光利用を含めたX線活用技術、透過電子顕微鏡や集束イオンビーム加工装置を用いた三次元ナノメートル解析技術を磨いております。これらを今回の特集号にて紹介しております。詳細は、技術リーフレットもご活用ください。当社は、引き続き世の中の最新技術動向に目を向け、お客様にソリューションを提供する分析サービスの向上に努めて参ります。対面での交流が戻ってまいりました。皆様にお目にかかれるのを楽しみにしております。
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