解体調査・劣化・不具合調査・構造解析

正極の解析

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電子線後方散乱回折(EBSD)分析による結晶方位分布解析や収差補正透過型走査電子顕微鏡（Cs-STEM）の電子エネルギー損失スペクトル(EELS)局所マッピング及び各種元素分析・構造解析手法などで、正極の高出力化や高容量化に向けた開発をサポートします。

収差補正透過型走査電子顕微鏡を用いると、正極材料開発において有益な構造情報を得ることが可能です。

正極に広く用いられているLiMn₂O₄の観察例をご紹介します。

LiMn₂O₄正極の微細構造

収差補正透過型走査電子顕微鏡は、原子レベルでの観察が可能であるため、HAADF(High Angle Dark Field）像やABF（Annular Bright Field）像観察により、正極活物質の表層の構造変化なども調査出来ます。

収差補正透過型操作電子顕微鏡に付帯するEELS分析により、活物質の周縁部と内部で、Mnの価数が異なることがわかります。