電子部品、電子デバイスの試験例

実施可能な試験の例

パッケージ開封

パッケージ開封

マイクロフォーカスX線解析装置による半田(はんだ)バンプの観察

「非破壊調査の正確さより、その後の破壊調査の確度をあげるだけでなく、不良解析の短TAT化ができます。マイクロフォーカスX線装置を使った、半田バンプ周りの観察を示しています。」
マイクロフォーカスX線観察写真

メニスコグラフ法による半田(はんだ)ぬれ試験

鉛フリー化にって、半田組成、フラックス材、母材メッキ条件、サンプル形状等ぬれ性に依存する多数の問題があります。メニスコグラフ法は、フラックスを散布したサンプルを定速度、定深さに侵漬しサンプルに作用する動的な力(力の時間変化)を、測定する動的ぬれ試験です。
メニスコグラフ法によるぬれの測定

関連ページ・関連リンク

作業の流れ

作業の流れ

このページに関するお問い合わせはこちらから

  • お問い合わせ
  • ご依頼の流れはこちら

JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部