振動試験と振動解析技術

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振動試験中のひずみゲージ測定技術

モビリティパーツの動的応力を計測することにより、製品の品質向上に貢献いたします。

ひずみ測定のシステム構成

振動試験中の動的応力をひずみゲージ法を用いて計測いたします。

    • ひずみゲージ

      • 短軸
      • 2軸
      • 3軸
    • 動ひずみ計

      • 測定範囲: ±20,000x10-6ひずみ
      • 応答周波数範囲: DC~3kHz(-3dB±1dB)
      • サンプリング速度:100μs~
      • 測定点数:30点/台(Max.300点)
    • ↓ USB
  • パソコン

    • サンプリング中のモニタグラフ表示、スペクトルグラフの作図
    • CSVファイル形式などに変換

ひずみゲージ法による振動試験中の動的応力測定例(ECU筐体)

  • 供試品 エンジンコントロールユニット(ECU)
    加振条件 周波数52.5Hz、加速度10G
    ひずみゲージ 3軸ゲージ(ゲージ長1mm)
    サンプリング速度 100μs

ひずみゲージ法のほかに、高速度カメラと3次元画像相関法(3D-DIC)によるひずみ分布解析、高感度赤外線カメラによる応力分布解析も承っております。

作業の流れ

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部
0120-643-777

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月~金:9:00~17:30(祝祭日を除く)

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