振動試験中のひずみゲージ測定技術

モビリティパーツの動的応力を計測することにより、製品の品質向上に貢献いたします。

ひずみ測定のシステム構成

振動試験中の動的応力をひずみゲージ法を用いて計測いたします。

ひずみゲージ

  • 短軸
  • 2軸
  • 3軸

動ひずみ計

  • 測定範囲: ±20,000×10-6ひずみ
  • 応答周波数範囲: DC~3kHz(-3dB±1dB)
  • サンプリング速度:100μs~
  • 測定点数:30点/台(Max.300点)


USB

パソコン

  • サンプリング中のモニタグラフ表示、スペクトルグラフの作図
  • CSVファイル形式などに変換

ひずみゲージ法による振動試験中の動的応力測定例(ECU筐体)

供試品 エンジンコントロールユニット(ECU)
加振条件 周波数52.5Hz、加速度10G
ひずみゲージ 3軸ゲージ(ゲージ長1mm)
サンプリング速度 100μs

ひずみゲージ法のほかに、高速度カメラと3次元画像相関法(3D-DIC)によるひずみ分布解析、高感度赤外線カメラによる応力分布解析も承っております。

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部