解析・評価可能な対応例
大気非暴露での微細構造解析
(高分解能FE-SEM/EDX、FE-TEM/EDX/EELS)
リチウムイオン二次電池の劣化解析において、大気に触れることなく、微細構造解析が可能です。
大気非暴露取り扱い装置
以下の装置で大気に触れずに評価解析が可能です。
| 試料作成 | FIB加工（SEM用、TEM用） |
|---|---|
| 形態観察 | 高分解能FE-SEM、FE-TEM |
| 成分分析、状態解析 | SEM-EDX、TEM-EDX、TEM-EELS、XPS、AES |
いずれの設備も、露点温度－50℃以下で試料の取り扱い（トランスファ）に対応し、水分や空気に活性の高いリチウム・空気電池や全固体電池も観察、分析が可能です。
市販電池の充放電試験前後における正極物質断面TEM観察と元素分析例
-
試験前（左）と充放電試験後（右） -
EDX分析結果
正極物質の結晶構造と成分の変化が明瞭に確認できます。
劣化電池負極表面のXPS法によるLi状態解析例
-
不良品（性能劣化電池の負極表面） -
良品
過充電により負極表面にLi金属が析出している様子がわかります。
その他の解析・評価可能な対応例
- 充放電試験前後の正極材の構造変化「大気非暴露処理-断面TEM観察」
- 携帯電話用角型電池の非破壊による内部欠陥観察
- 過充電状態の負極表面のリチウム「Li」のデンドライト「樹枝状結晶」状態分析「XPS」
- 大気非暴露でのFIB加工「SEM用、TEM用」
- 大気非暴露アルゴンイオンミリング加工(CP) 「SEM用、トランスファーベッセル対応」
- 大気非暴露での微細構造解析(高分解能FE-SEM/EDX、FE-TEM/EDX/EELS)
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- In-situ CCDカメラによる電極表面観察
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- Liイオン電池「リチウムイオン電池」 負極材のTEM調査
- EBSPによるCuめっき膜「銅めっき膜」の配向性評価
- Cuめっき膜「銅めっき膜」の配向性評価例EBSP図形とSIM像との比較
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- レーザー回折法による電極材料の粒度分布測定
- 高精度赤外線カメラ
- 劣化電池の大気非暴露環境下での解体処理
- 負極材表面の官能基分析
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- ラミネート形電池およびコイン型電池の試作及び充放電特性等性能試験
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- 電池の落下試験「高速度カメラ撮影」
- 電池ケースの圧縮試験、高速変形特性評価
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- 集電体溶接部の微細構造解析
- 集電体薄膜の結晶方位解析
- CIS系太陽電池の積層断面構造解析
- InGaAs太陽電池の構造解析
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- 色素増感型太陽電池、有機薄膜系太陽電池の微細構造解析
- 長期使用燃料電池用セパレータの表面形状観察
- 太陽電池パネルの塩水噴霧試験、複合サイクル試験
- 太陽電池用固定金具の溶接部評価
- ガス発電機ケースの耐食性評価
- 多結晶Si「多結晶シリコン」用極微量分析
- レーザーICP/MSによる不純物分析
- PEFC燃料電池用Pt触媒のXPS分析「内殻準位、価電子帯」
- ボタン電池正極材（MnO2）の元素分布分析（マッピング分析とライン分析）
- 各種振動解析事例
- 軟X線XAFS測定を用いた電池解析
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