解析・評価可能な対応例
Cuめっき膜（銅めっき膜）の配向性評価例
EBSD図形とSIM像との比較
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EBSD図形 
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SIM画像 
EBSDによるCuめっき膜（銅めっき膜）の配向性評価例
その他の解析・評価可能な対応例
- 充放電試験前後の正極材の構造変化「大気非暴露処理-断面TEM観察」
- 携帯電話用角型電池の非破壊による内部欠陥観察
- 過充電状態の負極表面のリチウム「Li」のデンドライト「樹枝状結晶」状態分析「XPS」
- 大気非暴露でのFIB加工「SEM用、TEM用」
- 大気非暴露アルゴンイオンミリング加工(CP) 「SEM用、トランスファーベッセル対応」
- 大気非暴露での微細構造解析(高分解能FE-SEM/EDX、FE-TEM/EDX/EELS)
- In-situ XRDによる電極構造解析「相転移、結晶面間隔、結晶性評価」
- In-situ CCDカメラによる電極表面観察
- Pt触媒「白金触媒」/C担体の高分解能SEM-STEM観察
- Liイオン電池「リチウムイオン電池」 Cu電極材の組織観察
- Liイオン電池「リチウムイオン電池」 負極材のTEM調査
- EBSDによるCuめっき膜「銅めっき膜」の配向性評価
- Cuめっき膜「銅めっき膜」の配向性評価例EBSD図形とSIM像との比較
- 電池材料「正極材、負極材、電解質」中の不純物分析
- レーザー回折法による電極材料の粒度分布測定
- 高精度赤外線カメラ
- 劣化電池の大気非暴露環境下での解体処理
- 負極材表面の官能基分析
- 過酸化リチウムの状態解析
- 全固体電池の活物質／電解質界面の状態観察
- ラミネート形電池およびコイン型電池の試作及び充放電特性等性能試験
- Liイオン電池「リチウムイオン電池」用セパレータ材の表面観察「FE-SEM、AFM」
- 電池の落下試験「高速度カメラ撮影」
- 電池ケースの圧縮試験、高速変形特性評価
- 燃料電池セル内温度分布測定
- 集電体溶接部の微細構造解析
- 集電体薄膜の結晶方位解析
- CIS系太陽電池の積層断面構造解析
- InGaAs太陽電池の構造解析
- GaAs系太陽電池のTEMによる欠陥観察
- 色素増感型太陽電池、有機薄膜系太陽電池の微細構造解析
- 長期使用燃料電池用セパレータの表面形状観察
- 太陽電池パネルの塩水噴霧試験、複合サイクル試験
- 太陽電池用固定金具の溶接部評価
- ガス発電機ケースの耐食性評価
- 多結晶Si「多結晶シリコン」用極微量分析
- レーザーICP/MSによる不純物分析
- PEFC燃料電池用Pt触媒のXPS分析「内殻準位、価電子帯」
- ボタン電池正極材（MnO2）の元素分布分析（マッピング分析とライン分析）
- 各種振動解析事例
- 軟X線XAFS測定を用いた電池解析
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