解析・評価可能な対応例
軟X線XAFS測定を用いた電池解析
高度先端解析技術であるXAFS解析が可能となりました。放射光施設を利用し軟X線領域XAFS測定が行えます。
軟X線領域でのX線吸収微細構造(XAFS※)測定の原理と特長
※XAFS :X-ray Absorption Fine Structure
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- 表面状態(構造、電子状態、価数や配位状態)が分析可能
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軟X線でXAFS測定できる元素
Li,B,C,N,O,F,Na,Mg,Al,Si,P,S,Cl(L端: Mn, Fe, Co, Ni, Nb, Ru) - 非破壊でバルク・表面・最表面の測定が可能
大気非暴露サンプル輸送システム
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電池解析に必須の大気非暴露輸送&測定システムが可能
<トランスファーベッセル(SRセンター)>サンプル準備~測定まで一貫して大気非暴露下で行います。
リチウムイオン電池のIn-situ軟X線領域XAFS測定システム
充放電時の変化をIn-situ(その場)でXAFS測定いたします
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In-situ XAFS測定
電池を充放電させながら電極、電解液中成分(対応元素: Mg、Al、Si、P、S、Cl、Nb、Ru)のXAFS測定を行う事ができます。
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Si負極のIn-situ測定例(Si K端XAFS)
Si負極を用いた電池の充電によるSi-Liショルダーピークの出現をIn-situ条件で捉えています。
電池材料に対する軟X線XAFS測定の様々な活用例
- リチウムイオン二次電池の正極活物質の局所構造調査
- 負極表面皮膜の解析
- 活物質のサイクルによる劣化解析
- 添加剤の反応状態測定
その他の解析・評価可能な対応例
- 充放電試験前後の正極材の構造変化「大気非暴露処理-断面TEM観察」
- 携帯電話用角型電池の非破壊による内部欠陥観察
- 過充電状態の負極表面のリチウム「Li」のデンドライト「樹枝状結晶」状態分析「XPS」
- 大気非暴露でのFIB加工「SEM用、TEM用」
- 大気非暴露アルゴンイオンミリング加工(CP) 「SEM用、トランスファーベッセル対応」
- 大気非暴露での微細構造解析(高分解能FE-SEM/EDX、FE-TEM/EDX/EELS)
- In-situ XRDによる電極構造解析「相転移、結晶面間隔、結晶性評価」
- In-situ CCDカメラによる電極表面観察
- Pt触媒「白金触媒」/C担体の高分解能SEM-STEM観察
- Liイオン電池「リチウムイオン電池」 Cu電極材の組織観察
- Liイオン電池「リチウムイオン電池」 負極材のTEM調査
- EBSPによるCuめっき膜「銅めっき膜」の配向性評価
- Cuめっき膜「銅めっき膜」の配向性評価例EBSP図形とSIM像との比較
- 電池材料「正極材、負極材、電解質」中の不純物分析
- レーザー回折法による電極材料の粒度分布測定
- 高精度赤外線カメラ
- 劣化電池の大気非暴露環境下での解体処理
- 負極材表面の官能基分析
- 過酸化リチウムの状態解析
- 全固体電池の活物質/電解質界面の状態観察
- ラミネート形電池およびコイン型電池の試作及び充放電特性等性能試験
- Liイオン電池「リチウムイオン電池」用セパレータ材の表面観察「FE-SEM、AFM」
- 電池の落下試験「高速度カメラ撮影」
- 電池ケースの圧縮試験、高速変形特性評価
- 燃料電池セル内温度分布測定
- 集電体溶接部の微細構造解析
- 集電体薄膜の結晶方位解析
- CIS系太陽電池の積層断面構造解析
- InGaAs太陽電池の構造解析
- GaAs系太陽電池のTEMによる欠陥観察
- 色素増感型太陽電池、有機薄膜系太陽電池の微細構造解析
- 長期使用燃料電池用セパレータの表面形状観察
- 太陽電池パネルの塩水噴霧試験、複合サイクル試験
- 太陽電池用固定金具の溶接部評価
- ガス発電機ケースの耐食性評価
- 多結晶Si「多結晶シリコン」用極微量分析
- レーザーICP/MSによる不純物分析
- PEFC燃料電池用Pt触媒のXPS分析「内殻準位、価電子帯」
- ボタン電池正極材(MnO2)の元素分布分析(マッピング分析とライン分析)
- 各種振動解析事例
- 軟X線XAFS測定を用いた電池解析
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- 軟X線XAFS測定を用いた電池解析 [事例集PDF]
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