解析・評価可能な対応例
多結晶Si「多結晶シリコン」用極微量分析
最新鋭の分析技術と豊富な経験により、多種多様な材料・製品中の極微量成分の評価を支援します。
オンリーワン・ナンバーワン技術
- 二重収束型ICP-MSや、クールプラズマ法とコリージョン技術を実用化した高感度型ICP-MSにより、高感度多元素同時分析を実現。
適用例：太陽電池用シリコンやウェハー表面汚染等の極微量分析 - タイムインジェクション試料導入法を採用し高塩濃度溶液の測定技術を確立。
適用例：高純度金属やニッケル基耐熱合金等の微量不純物分析 - レーザーアブレーション技術(LA)の開発とICP-MSとの連結によりユニークな固体直接分析技術を実用化。
適用例：原材料の迅速高感度分析、製品の局所・表面定量分析
太陽電池用シリコン分析
- 太陽電池用シリコンの高感度分析を短納期で実施
-
二重収束型ICP-MS -
分析方法と定量下限値
測定成分 分析方法 定量下限 C 燃焼-赤外線吸収法 5ppm O 融解-赤外線吸収法 5ppm N 融解-熱伝導度法 5ppm P ICP質量分析法 10ppb※ B ICP質量分析法 10ppb※ Al,Fe,Ti 他 ICP質量分析法 0.2ppb 61元素定性 ICP質量分析法 0.2ppb ※10ppb未満の場合は別途ご相談ください。
LA-ICP-MSによる高感度分析
-
レーザ光を同一試料面に高速繰返し照射することにより、0.1ppbオーダー～の高感度分析を実現
-
高純度アルミニウム標準物質のICP-MSスペクトル
LA-ICP-MSによる局所・深さ方向分析
-
短波長レーザを制御照射することにより、実装基板等の指定部位を分析
-
プリント基板スル－ホ－ルはんだ部の分析
その他の解析・評価可能な対応例
- 充放電試験前後の正極材の構造変化「大気非暴露処理-断面TEM観察」
- 携帯電話用角型電池の非破壊による内部欠陥観察
- 過充電状態の負極表面のリチウム「Li」のデンドライト「樹枝状結晶」状態分析「XPS」
- 大気非暴露でのFIB加工「SEM用、TEM用」
- 大気非暴露アルゴンイオンミリング加工(CP) 「SEM用、トランスファーベッセル対応」
- 大気非暴露での微細構造解析(高分解能FE-SEM/EDX、FE-TEM/EDX/EELS)
- In-situ XRDによる電極構造解析「相転移、結晶面間隔、結晶性評価」
- In-situ CCDカメラによる電極表面観察
- Pt触媒「白金触媒」/C担体の高分解能SEM-STEM観察
- Liイオン電池「リチウムイオン電池」 Cu電極材の組織観察
- Liイオン電池「リチウムイオン電池」 負極材のTEM調査
- EBSPによるCuめっき膜「銅めっき膜」の配向性評価
- Cuめっき膜「銅めっき膜」の配向性評価例EBSP図形とSIM像との比較
- 電池材料「正極材、負極材、電解質」中の不純物分析
- レーザー回折法による電極材料の粒度分布測定
- 高精度赤外線カメラ
- 劣化電池の大気非暴露環境下での解体処理
- 負極材表面の官能基分析
- 過酸化リチウムの状態解析
- 全固体電池の活物質／電解質界面の状態観察
- ラミネート形電池およびコイン型電池の試作及び充放電特性等性能試験
- Liイオン電池「リチウムイオン電池」用セパレータ材の表面観察「FE-SEM、AFM」
- 電池の落下試験「高速度カメラ撮影」
- 電池ケースの圧縮試験、高速変形特性評価
- 燃料電池セル内温度分布測定
- 集電体溶接部の微細構造解析
- 集電体薄膜の結晶方位解析
- CIS系太陽電池の積層断面構造解析
- InGaAs太陽電池の構造解析
- GaAs系太陽電池のTEMによる欠陥観察
- 色素増感型太陽電池、有機薄膜系太陽電池の微細構造解析
- 長期使用燃料電池用セパレータの表面形状観察
- 太陽電池パネルの塩水噴霧試験、複合サイクル試験
- 太陽電池用固定金具の溶接部評価
- ガス発電機ケースの耐食性評価
- 多結晶Si「多結晶シリコン」用極微量分析
- レーザーICP/MSによる不純物分析
- PEFC燃料電池用Pt触媒のXPS分析「内殻準位、価電子帯」
- ボタン電池正極材（MnO2）の元素分布分析（マッピング分析とライン分析）
- 各種振動解析事例
- 軟X線XAFS測定を用いた電池解析
このページに関する
お問い合わせはこちらから
- JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部
- 0120-643-777
