無機材料・セラミックスに関する分析

ネオジム磁石のEBSDによる結晶方位測定
EBSDによる結晶方位測定

各種無機材料・セラミック材料の機能(高強度、高耐食性、電気物性:絶縁性・電気伝導性・誘電性、光学特性など)は、バルク構造:組成・結晶相など、そして界面(粒界、接合界面など)の構造によります。

材料設計、故障解析のために必要な構造解析技術を提供いたします。

バルク構造(組成・不純物・焼結助剤、結晶相、応力)

化学分析を用いた平均組成(主成分、微量成分の分析)、結晶粒の観察、EBSDを用いた相分析、ラマン分光を用いた応力測定を行います。

元素分析

形態観察

結晶構造解析

 

界面構造(粒界偏析、濃化、異種材料接合)

SEM・TEMを用いたコーティングの積層や被覆性、基板との接合の様子、バルク結晶粒・結晶粒界の構造観察とともに、EDX・EELS分析を併用した微小部の分析を行います。

形態観察

  • ULV-SEMを用いたセラミック(酸化物、窒化物)/金属界面の観察分析
  • Cs補正STEM、TEM-EDX-EELSを用いた界面の濃化相の解析

元素分析

結晶構造解析

  • PZT(チタン酸ジルコン酸鉛)などのEBSDを用いた配向性評価
  • 電子回折を用いたセラミックコーティング層(窒化物、炭化物、酸化物)の同定
 

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部