有機・高分子材料の解析

高分子材料・ポリマー複合材料の解析

走査電子顕微鏡（SEM）、透過電子顕微鏡（TEM）によるコーティングの積層、被覆性、基板との接合の様子、複合したフィラー・微粒子の構造観察とともに、EDX・EELS分析を併用した微小部分析を行います。

観察対象には、次の内容を含みます。

• 表面・組織形態（表面テクスチャ、複相分布）
• 複合した粒子・フィラー（形態、粒度分布、凝集）
• 表面処理・表面修飾・薄膜・コーティングの積層構造・被覆性、結晶化度、化学結合状態・分子構造、異種材料間の界面反応、樹脂劣化

• 形態観察

  • ULV-SEMを用いたポリマー基板上の金属・セラミック皮膜の観察
  • ULV-SEMを用いたポリマー皮膜/ポリマー基板の無蒸着観察
  • ULV-SEMを用いた劣化した塗膜・フィラーの無蒸着観察
  • ULV-SEMを用いたポリマーアロイの無蒸着観察
  • ULV-SEMを用いた電池用セパレータの無蒸着観察・クライオFIB加工
  • 極低加速電圧SEMを用いたSiウエハ上に付着した有機物の観察
  • SEMを用いた正極材中の物質分率（正極材、バインダ、ポア）の評価
  • ULV-SEMを用いた複合粒子・フィラーの観察、FIB-SEMを用いたフィラーの3D観察
  • 無電解めっき用ポリマー基板表面の触媒層観察
  • クライオFIB加工したゴムシートのSEM観察
  • TEMを用いたゴム/金属界面の反応層の観察
  • Cs補正STEM、TEMを用いた金属粒子のポリマー被覆層の観察
  • Cs補正STEMを用いた有機ELの低温観察・クライオFIB加工

• 元素分析

  • FE-EPMAを用いたFC用MEAの分析・クライオArイオンビーム加工
  • TEMを用いたゴム/金属界面の反応層の観察
  • Cs補正STEM、TEM-EDX-EELSを用いたポリマー中の添加金属微粒子の解析
  • Cs補正STEM、TEM-EDX-EELSを用いた金属粒子のポリマー被覆層の観察
  • Cs補正STEM-EDX-EELSを用いた有機ELの低温皮膜構造解析・クライオFIB加工
  • FIB-ULV-SEMを用いた色素増感太陽電池（有機太陽電池）における発電層（ZnO・色素複合層）の観察

• 化学状態解析

  • TEM-EELSを用いたポリマー中分散粒子の同定
  • ラマン分光、FT-IR、NMRを用いた樹脂異物の同定
  • 樹脂添加剤の質量分析